软X射线-极紫外平场光谱仪

型号:SuperXUV-I

分辨率:0.006nm

SuperXUV-I使一款宽谱段、高分辨率、兼具空间分辨能力的软X射线-极紫外(Soft X-ray/EUV)平场光谱仪工作波段1~50nm。

SuperXUV-I已安装并应用于中国科学院等离子体物理研究所的先进实验超导托卡马克装置(Experimental Advanced Superconducting Tokamak,EAST),为实现EAST高参数稳态运行提供重要的物理支持。

 

拍谱范围覆盖 X-ray,EUV 波段

高分辨率0.006nm

纳秒级时间分辨能力可选

可根据客户要求定制

型号

Super XUV-I

光谱范围(nm)

1~13nm / 5~50nm

光谱分辨率@狭缝30um

0.006nm@3.5nm / 0.015nm@20nm

狭缝宽度

10~500um 可调

入射臂/焦距

237mm / 235mm

光栅

全息相差矫正平场光栅,表面镀金

线密度:2400lines/mm /1200lines/mm

探测器

Andor DO934P(可选)

真空度

10-6 Pa

重量

65Kg

尺寸(mm)

700x430x300

中子物理

同步辐射

重离子研究

高温等离子体研究